MENEGHESSO, GAUDENZIO
MENEGHESSO, GAUDENZIO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
"Hot-plugging" of LED modules: Electrical characterization and device degradation
2013 DAL LAGO, Matteo; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; G., Mura; M., Vanzi; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
'Hole Redistribution' Model Explaining the Thermally Activated RONStress/Recovery Transients in Carbon-Doped AlGaN/GaN Power MIS-HEMTs
2021 Zagni, N.; Chini, A.; Puglisi, F. M.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Pavan, P.; Verzellesi, G.
2.1 A/mm current density AlGaN/GaN HEMT
2003 Chini, Alessandro; Coffie, R.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Buttari, Dario; Heikman, S.; Keller, S.; Mishra, U. K.
2DEG Retraction and Potential Distribution of GaN-on-Si HEMTs Investigated Through a Floating Gate Terminal
2018 Rossetto, I.; Meneghini, M.; De Santi, C.; Pandey, Sudip; Gajda, M.; Hurkx, G. A. M.; Croon, J.; Šonský, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
A combined electro-optical method for the determination of the recombination parameters in InGaN-based light-emitting diodes
2009 Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; U., Zehnder; B., Hahn
A Combined Mechanical and Electrical Characterization Procedure for Investigating the Dynamic Behavior of RF-MEMS Switches
2014 Barbato, Marco; Giliberto, Valentina; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio
A comprehensive study of MEMS behavior under EOS/ESD events: Breakdown characterization, dielectric charging, and realistic cures
2011 Tazzoli, Augusto; Barbato, Marco; Ritrovato, V; Meneghesso, Gaudenzio
A film-forming graphene/diketopyrrolopyrrole covalent hybrid with far-red optical features: Evidence of photo-stability
2019 Zheng, M.; Lamberti, F.; Franco, L.; Collini, E.; Fortunati, I.; Bottaro, G.; Daniel, G.; Sorrentino, R.; Minotto, A.; Kukovecz, A.; Menna, E.; Silvestrini, S.; Durante, C.; Cacialli, F.; Meneghesso, G.; Maggini, M.; Gatti, T.
A model for the thermal degradation of metal/(p-GaN) interface in GaN-based light emitting diodes
2008 Meneghini, Matteo; Rigutti, L; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Cavallini, A; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A new method for CdSexTe1-x band grading for high efficiency thin-absorber CdTe solar cells
2021 Artegiani, E.; Gasparotto, A.; Punathil, P.; Kumar, V.; Barbato, M.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Piccinelli, F.; Romeo, A.
A novel fast and versatile temperature measurement system for LDMOS transistors
2005 Tazzoli, Augusto; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A novel in-situ approach to monitor the variations in the on-resistance of power transistors during switching operation
2023 Cavaliere, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
A novel on-wafer approach to test the stability of GaN-based devices in hard switching conditions: Study of hot-electron effects
2020 Modolo, N.; Meneghini, M.; Barbato, A.; Nardo, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Sicre, S.; Prechtl, G.; Curatola, G.
A novel technique to alleviate the stiction phenomenon in radio frequency microelectromechanical switches
2015 Barbato, M.; Meneghesso, G.
A physical-based equivalent circuit model for an organic/electrolyte interface
2016 Lago, Nicolo'; Cester, Andrea; Wrachien, Nicola; Natali, Marco; Quiroga, Santiago D.; Bonetti, Simone; Barbato, Marco; Rizzo, Antonio; Benvenuti, Emilia; Benfenati, Valentina; Muccini, Michele; Toffanin, Stefano; Meneghesso, Gaudenzio
A Physics-Based Approach to Model Hot-Electron Trapping Kinetics in p-GaN HEMTs
2021 Modolo, N.; De Santi, C.; Minetto, A.; Sayadi, L.; Sicre, S.; Prechtl, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
A review of the reliability of integrated ir laser diodes for silicon photonics
2021 Buffolo, M.; De Santi, C.; Norman, J.; Shang, C.; Bowers, J. E.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
A Review on the Physical Mechanisms That Limit the Reliability of GaN-Based LEDs
2010 Meneghini, Matteo; Tazzoli, Augusto; Mura, G; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A review on the reliability of GaN-based LEDs
2008 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A Statistical Approach to Microdose Induced Degradation in FinFET Devices
2009 Griffoni, Alessio; Gerardin, Simone; Roussel, Pj; Degraeve, R; Meneghesso, Gaudenzio; Paccagnella, Alessandro; Simoen, E; Claeys, C.