MENEGHESSO, GAUDENZIO
MENEGHESSO, GAUDENZIO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
"Electrical Properties, Reliability Issues, and ESD Robustness of InGaN-Based LEDs" in III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications
2013 Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
"Hot-plugging" of LED modules: Electrical characterization and device degradation
2013 DAL LAGO, Matteo; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; G., Mura; M., Vanzi; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
'Hole Redistribution' Model Explaining the Thermally Activated RONStress/Recovery Transients in Carbon-Doped AlGaN/GaN Power MIS-HEMTs
2021 Zagni, N.; Chini, A.; Puglisi, F. M.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Pavan, P.; Verzellesi, G.
2.1 A/mm current density AlGaN/GaN HEMT
2003 Chini, Alessandro; Coffie, R.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Buttari, Dario; Heikman, S.; Keller, S.; Mishra, U. K.
2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC)
2014 Roberto, Bez; Paolo, Pavan; Meneghesso, Gaudenzio
24 Hours Stress Test and Failure Analysis of 0.25 μm AlGaN/GaN HEMTs
2018 Rzin, M.; Rampazzo, F.; Meneghini, M.; Grünenpütt, J.; Jung, H.; Lambert, B.; Riepe, K.; Blanck, H.; Graff, A.; Altmann, F.; Simon-Najasek, M.; Poppitz, D.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
2DEG Retraction and Potential Distribution of GaN-on-Si HEMTs Investigated Through a Floating Gate Terminal
2018 Rossetto, I.; Meneghini, M.; De Santi, C.; Pandey, Sudip; Gajda, M.; Hurkx, G. A. M.; Croon, J.; Šonský, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
46th Workshop on Compound Semiconductor Materials and Devices (WOCSEMMAD 2010) Conference Report
2010 Meneghesso, Gaudenzio; D., Theron
A combined electro-optical method for the determination of the recombination parameters in InGaN-based light-emitting diodes
2009 Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; U., Zehnder; B., Hahn
A Combined Mechanical and Electrical Characterization Procedure for Investigating the Dynamic Behavior of RF-MEMS Switches
2014 Barbato, Marco; Giliberto, Valentina; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio
A combined µ-Cathodoluminescence and µ-Photoluminescence Investigation of the Degradation of InGaN/GaN Laser Diodes
2013 Meneghini, Matteo; Carraro, Simone; Vaccari, Simone; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; G., Mura; F., Rossi; G., Salviati; J., Holc; T., Weig; L., Schade; M. A., Karunakara; U. T., Schwarz; Zanoni, Enrico
A comprehensive reliability evaluation of high-performance AlGaN/GaN HEMTs for space applications
2016 DE SANTI, Carlo; Dalcanale, Stefano; Stocco, Antonio; Rampazzo, Fabiana; Gerardin, Simone; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; Grünenpütt, Jan; Lambert, Benoit; Schauwecker, Bernd; Blanck, Hervé; Barnes, Andrew; Zanoni, Enrico
A comprehensive study of MEMS behavior under EOS/ESD events: Breakdown characterization, dielectric charging, and realistic cures
2011 Tazzoli, Augusto; Barbato, Marco; Ritrovato, V; Meneghesso, Gaudenzio
A Comprehensive Study of MEMS Behavior under EOS/ESD Events: Breakdown, Dielectric Charging, and Realistic Cures
2010 Tazzoli, Augusto; Barbato, Marco; V., Ritrovato; Meneghesso, Gaudenzio
A Discussion of the Susceptibility of a Brokaw Bandgap to EMI
2006 Buso, Simone; Orietti, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Neviani, Andrea; Spiazzi, Giorgio; Montemezzo, N.
A Distributed Electrical Network to Model the Local Shunting in Multicrystalline Silicon Solar Cells
2012 D., Giaffreda; Magnone, Paolo; R., De Rose; Barbato, Marco; Meneghini, Matteo; Giliberto, Valentina; Meneghesso, Gaudenzio; E., Sangiorgi; C., Fiegna
A film-forming graphene/diketopyrrolopyrrole covalent hybrid with far-red optical features: Evidence of photo-stability
2019 Zheng, M.; Lamberti, F.; Franco, L.; Collini, E.; Fortunati, I.; Bottaro, G.; Daniel, G.; Sorrentino, R.; Minotto, A.; Kukovecz, A.; Menna, E.; Silvestrini, S.; Durante, C.; Cacialli, F.; Meneghesso, G.; Maggini, M.; Gatti, T.
A Generalized Approach to Determine the Switching Reliability of GaN HEMTs on-Wafer Level
2021 Modolo, N.; Minetto, A.; De Santi, C.; Sayadi, L.; Sicre, S.; Prechtl, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
A model for the thermal degradation of metal/(p-GaN) interface in GaN-based light emitting diodes
2008 Meneghini, Matteo; Rigutti, L; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Cavallini, A; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A new degradation mechanism induced by DX-center in AlGaAs/InGaAs PM-HEMT's
1994 Zanoni, Enrico; E., De Bortoli; Meneghesso, Gaudenzio; Neviani, Andrea; L., Vendrame; A. Paccagnella C., Canali