LONGATO, SIMONE LEONARDO
LONGATO, SIMONE LEONARDO
Università di Padova
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Dynamic phenomena in 650V p-GaN technology
2024 Stockman, A.; Nardo, A.; Vanmeerbeek, P.; Tack, M.; Favero, D.; Longato, S.; De Santi, C.; Meneghini, M.
Investigation of degradation dynamics of 265 nm LEDs assisted by EL measurements and numerical simulations
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Longato, Simone; Susilo, Norman; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs | 2024 | F. PivaM. BuffoloM. PilatiN. RoccatoS. LongatoC. De SantiG. MeneghessoE. ZanoniM. Meneghini + | - | - | Proceedings of the GaN Marathon 2024 |
Dynamic phenomena in 650V p-GaN technology | 2024 | A. NardoD. FaveroS. LongatoC. De SantiM. Meneghini + | - | - | Proceedings of the GaN Marathon 2024 |
Investigation of degradation dynamics of 265 nm LEDs assisted by EL measurements and numerical simulations | 2024 | Piva, FrancescoBuffolo, MatteoRoccato, NicolaPilati, MarcoLongato, SimoneSanti, Carlo DeMeneghesso, GaudenzioZanoni, EnricoMeneghini, Matteo + | SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY | - | - |