CARLOTTO, ANDREA
CARLOTTO, ANDREA
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Deep-Level Effects in Back-Barrier-Scaled GaN HEMTs
2026 De Pieri, F.; Carlotto, A.; Fregolent, M.; Cavaliere, A.; Saro, M.; Rampazzo, F.; De Santi, C.; Zhan, V. G.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.; Zanoni, E.
Origin of Deep Levels Responsible for Transconductance Overshoot in AlGaN/GaN HEMTs and Impact in Real-Life Operating Conditions
2026 Carlotto, A.; De Pieri, F.; Rossetto, I.; De Santi, C.; Fregolent, M.; Rampazzo, F.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Study of Heavy-Ion-Induced Degradation in Si3N4MIM Capacitors for GaN Power Amplifiers
2026 Roy Chowdhury, S.; Rossetto, I.; De Santi, C.; Fregolent, M.; Carlotto, A.; Rampazzo, F.; De Pieri, F.; Pantellini, A.; Natali, M.; Latessa, L.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.; Zanoni, E.
Transient Short-Channel Effects Induced by Si δ Doping in Buffer-Free LG=0.15 μm AlGaN/GaN HEMTs
2026 De Pieri, F.; De Santi, C.; Rossetto, I.; Carlotto, A.; Roy Chowdhury, S.; Saro, M.; Rampazzo, F.; Stieglauer, H.; Grünenpütt, J.; Sommer, D.; Chen, J. T.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Comprehensive Analysis of Deep level Effects and in-situ Photoionization in 0.15 $\mu \mathrm{m}$ buffer-free AIGaN/GaN HEMTs for RF applications
2025 Pieri, Francesco De; Fregolent, Manuel; Saro, Marco; Carlotto, Andrea; Boito, Mirco; Santi, Carlo De; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico
Deep Level Effects and Hot-Electron Reliability in Scaled GaN HEMTs
2025 Zanoni, Enrico; Carlotto, Andrea; De Pieri, Francesco; Fregolent, Manuel; Saro, Marco; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Study of trapping mechanisms affecting AlGaN/GaN HEMTs adopting AlGaN back-barriers with different aluminum concentrations
2025 Carlotto, Andrea; Rampazzo, Fabiana; Saro, Marco; De Pieri, Francesco; Fregolent, Manuel; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico
Deep Level Effects in N-Polar AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors: Toward Zero Dispersion Effects
2024 Saro, Marco; de Pieri, Francesco; Carlotto, Andrea; Fornasier, Mirko; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Bisi, Davide; Guidry, Matthew; Keller, Stacia; Mishra, Umesh
Scaling of GaN HEMTs for microwave and millimeter-wave applications: achieving control of short-channel effects, deep levels and reliability
2024 Zanoni, Enrico; Buffolo, Matteo; Carlotto, Andrea; DE PIERI, Francesco; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Rampazzo, Fabiana