BUFFOLO, MATTEO
BUFFOLO, MATTEO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Identification of boron-related traps via capacitance spectroscopy in diamond Schottky diodes
2026 Biasin, G.; Fregolent, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Bassaler, J.; Maurya, V.; Letellier, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Verzellesi, G.; Chini, A.; Meneghini, M.
Link between defects, quantum efficiency and degradation trends in UV-C LEDs
2026 Meneghini, M.; Piva, F.; Roccato, N.; Pacuk, J.; Pilati, M.; Longato, S.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Susilo, N.; Schilling, M.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Höpfner, J.; Ruschel, J.; Glaab, J.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Modeling the Changes in the Current-Voltage Characteristics of Vertical GaN-on-GaN p-i-n Diodes Under Electrical Stress
2026 Vianello, A. M.; Longato, S. L.; Fregolent, M.; Rampazzo, F.; Buffolo, M.; Wang, D.; Da, B.; Fu, H.; Luo, S.; Chang, C.; Zhao, Y.; Rossetto, I.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Optical Degradation of 845 nm VCSELs With Different Oxide Apertures for Silicon Photonics
2026 Zenari, M.; Buffolo, M.; Perale, F.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowski, A.; Gustavsson, J. S.; Baets, R.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Quantitative modeling of threshold instability in β-Ga2O3 finFETs through electro-optical investigation
2026 Fregolent, M.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Li, W.; Nomoto, K.; Hu, Z.; Jena, D.; Xing, H. G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Reliability of perovskite semitransparent mini-modules
2026 Trivellin, N.; Tormena, N.; De Santi, C.; Piva, F.; Caria, A.; Buffolo, M.; Cester, A.; Barichello, J.; Matteocci, F.; Di Carlo, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Addressing the oxide-aperture dependency of the degradation of 845 nm VCSELs for silicon photonics
2025 Buffolo, Matteo; Zenari, Michele; De Santi, Carlo; Rossi, Francesca; Lazzarini, Laura; Roelkens, Günther; Larsson, Anders; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Analysis and modeling of the positive degradation mechanism observed in 265 nm UV-C LEDs
2025 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; Longato, S. L.; Pilati, M.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of extrinsic failure mechanisms of high-power blue, red, and white LEDs for horticulture and street lighting
2025 Caria, Alessandro; Fraccaroli, Riccardo; Pierobon, Giulia; Castellaro, Thomas; Huang, Ambrogio; Magnien, Julien; Rosc, Joerdis; Mura, Giovanna; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Changes in the extraction and collection efficiency of GaN-based MQW solar cells under optical step-stress
2025 Nicoletto, M.; Bertin, S.; Caria, A.; Roccato, N.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defects and reliability of UVC-LEDs
2025 Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; De Santi, Carlo; Wernicke, Tim; Höpfner, Jakob; Marcel Schilling, Marcel; Muhin, Anton; Susilo, Norman; Hauer-Vidal, Daniel; Sulmoni, Luca; Kneissl, Michael; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Defects in InGaN QW structures: microscopic properties and modeling
2025 Meneghini, Matteo; Nicoletto, Marco; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; Caria, Alessandro; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Rossi, Francesca; Mura, Giovanna; Gasparotto, Andrea; Becht, Conny; Kusch, Gunnar; Ji, Yihong; Huang, Xuanqi; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Oliver, Rachel; Grandjean, Nicolas; Schwarz, Ulrich T.
Degradation Effects in UVC LEDs Analyzed by Single-Wavelength Photo-Capacitance Transients
2025 Pilati, M.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Meneghini, M.
Diffusion mechanism as cause of optical degradation in AlGaN-based UV-C leds investigated by TCAD simulations
2025 Roccato, N.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Efficiency- and lifetime-limiting effects of commercially available UVC LEDs: a review
2025 Onushkin, Grigory; Ruschel, Jan; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Rass, Jens; Davis, Lynn; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Van Driel, Willem; Meneghini, Matteo
Evidence for Avalanche and its Role in Lateral and Vertical Gallium Nitride Devices
2025 De Santi, C.; Fraccaroli, R.; Fregolent, M.; Dell’Andrea, M.; Rossetto, I.; Boito, M.; Canato, E.; Pirani, A.; Pizzo, G.; Miccoli, C.; Russo, A.; Castagna, M. E.; Cerati, L.; Iucolano, F.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Extrinsic Failure of High-Power Blue LEDs for Horticulture Applications Stressed in Hot Environments
2025 Caria, A.; Fraccaroli, R.; Pierobon, G.; Castellaro, T.; Huang, A.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Trivellin, N.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
GaN Devices: Technology, Reliability-Limiting Processes and ESD Failures
2025 Meneghini, M.; Longato, S.; Fregolent, M.; Fraccaroli, R.; Rossetto, I.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Hail Damage Investigation in Heterojunction Silicon Photovoltaic Modules: A Real-World Case Study
2025 Nicoletto, M.; Panizzon, D.; Caria, A.; Trivellin, N.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Hotspot analysis on a flexible PV mini-modules based on IBC solar cells
2025 Jakuza, P.; Casu, C.; Piva, F.; Caria, A.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Rampino, S.; Pattini, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.