DELL'ANDREA, MATTEO

DELL'ANDREA, MATTEO  

Università di Padova  

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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
Experimental Evidence of Sustainable Avalanche Operation in E-Mode GaN HEMTs 2026 Fraccaroli R.Dell'Andrea M.Fregolent M.Boito M.Longato S. L.De Santi C.Rossetto I.Zanoni E.Meneghesso G.Meneghini M. + IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS - -
Hot-Electron Degradation under Switching Accelerated Lifetime Testing (SALT) of 650 v E-Mode GaN HEMTs: A Novel Experimental Approach 2026 Dell'andrea M.Boito M.Fregolent M.Fraccaroli R.Rossetto I.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + - IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS Proceedings of the 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Methodology for Extrapolating the Lifetime of GaN HEMTs with p-GaN Gate 2026 Fraccaroli R.Fregolent M.Dell'andrea M.Rossetto I.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + - IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS Proceedings of the 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Evidence for Avalanche Operation in Sub-Micrometer Power GaN HEMTs with p-GaN Gate 2025 Fraccaroli, RiccardoDell'Andrea, MatteoFregolent, ManuelBoito, MircoDe Santi, CarloMeneghesso, GaudenzioEleonora CanatoEnrico ZanoniRossetto, IsabellaMeneghini, Matteo + - IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
Experimental Demonstration of Avalanche operation in lateral normally-off 100 V GaN HEMTs 2025 Riccardo FraccaroliMatteo Dell’AndreaManuel FregolentMirco BoitoIsabella RossettoCarlo De SantiGaudenzio MeneghessoEnrico ZanoniEleonora CanatoMatteo Meneghini + - - Proceedings of the 15th International Conference on Nitride Semiconductors