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Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN-based light emitting diode
2023 Casu, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Status of Performance and Reliability of 265 nm Commercial UV-C LEDs in 2023
2023 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola
Early failure of high-power white LEDs for outdoor applications under extreme electrical stress: Role of silicone encapsulant
2023 Caria, A.; Fraccaroli, R.; Pierobon, G.; Castellaro, T.; Mura, G.; Ricci, P. C.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Trivellin, N.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Addressing the Optical Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Lasers through Subthreshold Characterization
2023 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Norman, Justin; Hughes, Eamonn T.; Bowers, John E.; Herrick, Robert; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Impact of Mg-doping on the performance and degradation of AlGaN-based UV-C LEDs
2023 Piva, F.; Grigoletto, M.; Brescancin, R.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Ruschel, J.; Glaab, J.; Hauer Vidal, D.; Guttmann, M.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Susilo, N.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Correlating Interface and Border Traps With Distinctive Features of C–V Curves in Vertical Al2O3/GaN MOS Capacitors
2023 Zagni, Nicolò; Fregolent, Manuel; Verzellesi, Giovanni; Marcuzzi, Alberto; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Treidel, Eldad Bahat; Brusaterra, Enrico; Brunner, Frank; Hilt, Oliver; Meneghini, Matteo; Pavan, Paolo
Degradation of AlGaN-based SQW UV-C LEDs investigated by capacitance deep level transient spectroscopy
2023 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Muhin, A.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Performance and Degradation of Commercial Ultraviolet-C Light-Emitting Diodes for Disinfection Purposes
2023 Trivellin, N; Piva, F; Fiorimonte, D; Buffolo, M; De Santi, C; Zanoni, E; Meneghesso, G; Meneghini, M
GaN-on-Si Power HEMTs for Automotive: Current Status and Perspectives
2023 Favero, D.; Marcuzzi, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
On the CET-Map Ill-Posed Inversion Problem: Theory and Application to GaN HEMTs
2023 Modolo, N; De Santi, C; Baratella, G; Minetto, A; Sayadi, L; Sicre, S; Prechtl, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Degradation Processes and Aging in Quantum Dot Lasers on Silicon
2023 Meneghini, Matteo; Buffolo, Matteo; Zenari, Michele; DE SANTI, Carlo; Herrick, Robert W.; Shang, Chen; Wan, Yating; Feng, Kaiyin; Hughes, Eamonn; Bowers, John; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
DLTS-based defect analysis in UV-C single QW LEDs during a constant current stress
2022 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling of the Conduction Processes and Deep Levels in Annealed Nitrogen-Implanted β-Gallium Oxide Schottky diodes
2022 De Santi, C.; Fregolent, M.; Buffolo, M.; Higashiwaki, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Trapping and reliability of wide bandgap devices
2022 DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Deep levels effects and on-wafer reliability of 0.15 um InAlN/GaN and InAlGaN/GaN HEMTs with AlGaN backbarrier for RF applications
2022 Gao, Z.; Chiocchetta, F.; Fornasier, M.; Saro, M.; Stramare, E.; Tonello, A.; Sharma, C.; Modolo, N.; De Santi, C.; Rampazzo, F.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.; Zanoni, E.; Jacquet, J-C.; Lacam, C.; Piotrowicz, S.; Oualli, M.; Michel, N.; Aroulanda, S.
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Physics-based extraction of trap distribution in AlGaN/GaN HEMTs from stretched exponentials
2022 DE SANTI, Carlo; Modolo, Nicola; Minetto, Andrea; Sayadi, Luca; Prechtl, Gerhard; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Defects and reliability in GaN electronics and optoelectronics: challenges and perspectives
2022 Meneghini, M.
Trap parameter extraction and compact modeling of non-ideal dynamic performance in AlGaN/GaN HEMTs
2022 DE SANTI, Carlo; Modolo, Nicola; Baratella, Giulio; Borga, Matteo; Posthuma, Niels; Bakeroot, Benoit; You, Shuzhen; Decoutere, Stefaan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Probing carrier transport and recombination processes in dichromatic GaN-based LEDs: a nonequilibrium Green’s function study
2022 Gonzalez Montoya, J. A.; Tibaldi, A.; Casu, C.; Roccato, N.; De Santi, C.; Meneghini, M.; Goano, M.; Bertazzi, F.
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