MASIN, FABRIZIO
MASIN, FABRIZIO
Università di Padova
Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs
2022 Modolo, N.; Fregolent, M.; Masin, F.; Benato, A.; Bettini, A.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Borga, M.; Posthuma, N.; Bakeroot, B.; Decoutere, S.; Vogrig, D.; Neviani, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Cryogenic-temperature investigation of negative bias stress inducing threshold voltage instabilities on 4H-SiC MOSFETs
2022 Masin, F.; De Santi, C.; Lettens, J.; Geenen, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Moens, P.; Meneghini, M.
ESD-failure of E-mode GaN HEMTs: Role of device geometry and charge trapping
2019 Canato, E.; Meneghini, M.; Nardo, A.; Masin, F.; Barbato, A.; Barbato, M.; Stockman, A.; Banerjee, A.; Moens, P.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
Gate Conduction Mechanisms and Lifetime Modeling of p-Gate AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors
2018 Stockman, Arno; Masin, Fabrizio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Bakeroot, Benoit; Moens, Peter
Non-monotonic threshold voltage variation in 4H-SiC metal-oxide-semiconductor field-effect transistor: Investigation and modeling
2021 Masin, F.; De Santi, C.; Lettens, J.; Franchi, J.; Domeij, M.; Moens, P.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
OFF-state trapping phenomena in GaN HEMTs: Interplay between gate trapping, acceptor ionization and positive charge redistribution
2020 Canato, E.; Meneghini, M.; De Santi, C.; Masin, F.; Stockman, A.; Moens, P.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
Positive temperature dependence of time-dependent breakdown of GaN-on-Si E-mode HEMTs under positive gate stress
2019 Masin, Fabrizio; Meneghini, M.; Canato, E.; De Santi, C.; Stockman, A.; Zanoni, E.; Moens, P.; Meneghesso, G.
Review on the degradation of GaN-based lateral power transistors
2021 De Santi, C.; Buffolo, M.; Rossetto, I.; Bordignon, T.; Brusaterra, E.; Caria, A.; Chiocchetta, F.; Favero, D.; Fregolent, M.; Masin, F.; Modolo, N.; Nardo, A.; Piva, F.; Rampazzo, F.; Sharma, C.; Trivellin, N.; Gao, Z.; Meneghini, M.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.