Review on the degradation of GaN-based lateral power transistors
De Santi, C.;Buffolo, M.;Caria, A.;Chiocchetta, F.;Favero, D.;Fregolent, M.;Masin, F.;Modolo, N.;Nardo, A.;Piva, F.;Rampazzo, F.;Trivellin, N.;Gao, Z.;Meneghini, M.;Zanoni, E.;Meneghesso, G.
2021
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