BENATO, ANDREA
BENATO, ANDREA
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
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Gate leakage mechanisms and their compact modeling in p-GaN gate AlGaN/GaN HEMTs
2025 De Santi, Carlo; Benato, Andrea; Modolo, Nicola; Borga, Matteo; Posthuma, Niels; Bakeroot, Benoit; Decoutere, Stefaan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs
2022 Modolo, N.; Fregolent, M.; Masin, F.; Benato, A.; Bettini, A.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Borga, M.; Posthuma, N.; Bakeroot, B.; Decoutere, S.; Vogrig, D.; Neviani, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Gate leakage mechanisms and their compact modeling in p-GaN gate AlGaN/GaN HEMTs | 2025 | Carlo De SantiAndrea BenatoNicola ModoloMatteo BorgaGaudenzio MeneghessoEnrico ZanoniMatteo Meneghini + | - | - | Proceedings of the 15th International Conference on Nitride Semiconductors |
Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs | 2022 | Modolo N.Fregolent M.Masin F.Benato A.Bettini A.Buffolo M.De Santi C.Borga M.Vogrig D.Neviani A.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + | MICROELECTRONICS RELIABILITY | - | - |