BUFFOLO, MATTEO
BUFFOLO, MATTEO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Changes in the extraction and collection efficiency of GaN-based MQW solar cells under optical step-stress
2025 Nicoletto, M.; Bertin, S.; Caria, A.; Roccato, N.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Efficiency- and lifetime-limiting effects of commercially available UVC LEDs: a review
2025 Onushkin, Grigory; Ruschel, Jan; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Rass, Jens; Davis, Lynn; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Van Driel, Willem; Meneghini, Matteo
Hail Damage Investigation in Heterojunction Silicon Photovoltaic Modules: A Real-World Case Study
2025 Nicoletto, M.; Panizzon, D.; Caria, A.; Trivellin, N.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Investigating the optical degradation of InAs quantum dot lasers on silicon through combined electro-optical characterization and gain measurements
2025 Zenari, M.; Novarese, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Norman, J.; Hughes, E. T.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Gioannini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Long-term (8000 h) reliability and failures of high-power LEDs for outdoor lighting stressed at high ambient temperatures
2025 Caria, A.; Fraccaroli, R.; Pierobon, G.; Castellaro, T.; Huang, A.; Magnien, J.; Rosc, J.; Lipák, G.; Hantos, G.; Hegedüs, J.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Trivellin, N.; Zanoni, E.; Poppe, A.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Long-Term Analysis of Temperature and Current-Dependent Degradation in Green High-Power Light-Emitting Diodes
2025 Herzog, Alexander; Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Benkner, Simon; Zandi, Babak; Balasus, Jens; Myland, Paul; Wirth, Felix; Van Driel, Willem D.; Meneghini, Matteo; Khanh, Tran Quoc
Modeling Cracks in Silicon-Heterojunction Photovoltaic Modules: A Real-World Case Study
2025 Nicoletto, Marco; Panizzon, Davide; Caria, Alessandro; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling the capacitance–voltage characteristics of AlGaN-based UV-C LEDs
2025 Roccato, N.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Schilling, M.; Muhin, A.; Höpfner, J.; Guttmann, M.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Recoverable degradation of FAPbBr3 perovskite solar cells under reverse-bias: A combined electro-optical investigation
2025 Tormena, N.; Caria, A.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Cester, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Matteocci, F.; Di Carlo, A.; Trivellin, N.; Meneghini, M.
Solid State Lighting Systems for horticulture: Impact of LED degradation on light spectrum and intensity
2025 Trivellin, N.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Buffolo, M.; Pierobon, G.; Zanoni, E.; Caria, A.; Fraccaroli, R.; Meneghini, M.
Systematic analysis of the trapping and reliability of Al2O3/GaN MOS capacitors with different atomic layer deposition techniques
2025 Fregolent, Manuel; Tomasi, Marco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Tadmor, Liad; Brusaterra, Enrico; Treidel, Eldad Bahat; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Advanced defect spectroscopy in wide-bandgap semiconductors: review and recent results
2024 Fregolent, Manuel; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Cester, Andrea; Higashiwaki, Masataka; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Laser Diodes for silicon photonics: dependence on the number of dot-in-a-well layers
2024 Zenari, Michele; Gioannini, Mariangela; Buffolo, Matteo; Tibaldi, Alberto; De Santi, Carlo; Norman, Justin; Shang, Chen; Dumont, Mario; Bowers, John E.; Herrick, Robert W.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Effect of High Monochromatic Radiation on the Electrical Performance of CIGS Solar Cell
2024 Casu, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Cester, A.; Rampino, S.; Bronzoni, M.; Mazzer, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Fast Characterization of Power LEDs: Circuit Design and Experimental Results
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Narduzzi, Claudio; Fraccaroli, Riccardo; Caria, Alessandro; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Impact of the oxide aperture width on the degradation of 845 nm VCSELs for silicon photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Rossi, Francesca; Lazzarini, Laura; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Investigation and modeling of the role of interface defects in the optical degradation of InGaN/GaN LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Trivellin, Nicola; Haller, Camille; Carlin, Jean-François; Grandjean, Nicolas; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Investigation of degradation dynamics of 265 nm LEDs assisted by EL measurements and numerical simulations
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Longato, Simone; Susilo, Norman; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling of the electrical characteristics and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling the Electrical Degradation of Micro-Transfer Printed 845 nm VCSILs for Silicon Photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo