Investigation and modeling of the role of interface defects in the optical degradation of InGaN/GaN LEDs

Roccato, Nicola;Piva, Francesco;Buffolo, Matteo;Santi, Carlo De;Trivellin, Nicola;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo
2024
2024
JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHYSICS
WOS:001307324100001
2-s2.0-85202750857
W4401630300
01.01 - Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3523751
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
  • OpenAlex 0
social impact