BUFFOLO, MATTEO
BUFFOLO, MATTEO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
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Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Physical Modelling of Charge Trapping Effects | 2024 | Buffolo, MatteoDe Santi, CarloMeneghesso, GaudenzioMeneghini, MatteoZanoni, EnricoChini, Alessandro + | - | - | Modeling of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors |