Impact of the oxide aperture width on the degradation of 845 nm VCSELs for silicon photonics
Zenari, Michele;Buffolo, Matteo;Rampazzo, Fabiana;De Santi, Carlo;Rossi, Francesca;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo
2024
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
Impact_of_the_Oxide_Aperture_Width_on_the_Degradation_of_845_Nm_VCSELs_for_Silicon_Photonics.pdf
accesso aperto
Tipologia:
Published (Publisher's Version of Record)
Licenza:
Creative commons
Dimensione
3.2 MB
Formato
Adobe PDF
|
3.2 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
