Impact of the oxide aperture width on the degradation of 845 nm VCSELs for silicon photonics

Zenari, Michele;Buffolo, Matteo;Rampazzo, Fabiana;De Santi, Carlo;Rossi, Francesca;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo
2024
2024
IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS
WOS:001309252000001
2-s2.0-85196738673
W4399768913
01.01 - Articolo in rivista
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