GaN Devices: Technology, Reliability-Limiting Processes and ESD Failures

M. Meneghini;S. Longato;M. Fregolent;R. Fraccaroli;I. Rossetto;C. De Santi;M. Buffolo;G. Meneghesso;E. Zanoni
2025
2025
Proceedings of the 47th Annual EOS/ESD Symposium 2025
47th Annual EOS/ESD Symposium 2025
04.01 - Contributo in atti di convegno
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