BIASIN, GIACOMO
BIASIN, GIACOMO
Università di Padova
Identification of boron-related traps via capacitance spectroscopy in diamond Schottky diodes
2026 Biasin, G.; Fregolent, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Bassaler, J.; Maurya, V.; Letellier, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Verzellesi, G.; Chini, A.; Meneghini, M.
Ultrawide Bandgap Semiconductors: State of the Art and Technological Challenges
2026 Fregolent, Manuel; Biasin, Giacomo; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Rossetto, Isabella; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Identification of Boron-related traps via Capacitance Spectroscopy in Diamond Schottky diodes
2025 Biasin, Giacomo; Fregolent, Manuel; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Bassaler, Julien; Maurya, Vishwajeet; Letellier, Juliette; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro; Meneghini, Matteo