BIASIN, GIACOMO
BIASIN, GIACOMO
Università di Padova
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Identification of boron-related traps via capacitance spectroscopy in diamond Schottky diodes
2026 Biasin, G.; Fregolent, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Bassaler, J.; Maurya, V.; Letellier, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Verzellesi, G.; Chini, A.; Meneghini, M.
Identification of Boron-related traps via Capacitance Spectroscopy in Diamond Schottky diodes
2025 Biasin, Giacomo; Fregolent, Manuel; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Bassaler, Julien; Maurya, Vishwajeet; Letellier, Juliette; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro; Meneghini, Matteo
| Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
|---|---|---|---|---|---|
| Identification of boron-related traps via capacitance spectroscopy in diamond Schottky diodes | 2026 | Biasin G.Fregolent M.Buffolo M.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Chini A.Meneghini M. + | DIAMOND AND RELATED MATERIALS | - | - |
| Identification of Boron-related traps via Capacitance Spectroscopy in Diamond Schottky diodes | 2025 | Giacomo BiasinManuel FregolentMatteo BuffoloCarlo De SantiGaudenzio MeneghessoEnrico ZanoniMatteo Meneghini + | - | - | Proceedings of ICDCM 2025 |