ROCCATO, NICOLA
ROCCATO, NICOLA
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Deep defects in InGaN LEDs: modeling the impact on the electrical characteristics
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Mukherjee, K; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Defects and Reliability of GaN-Based LEDs: Review and Perspectives
2022 Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Roccato, N.; Casu, C.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defects in III-N LEDs: experimental identification and impact on electro-optical characteristics
2022 Buffolo, M; Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Casu, C; Caria, A; Mukherjee, K; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Mosca, M; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Defects, performance, and reliability in UVC LEDs
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Degradation of AlGaN-based SQW UV-C LEDs investigated by capacitance deep level transient spectroscopy
2023 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Muhin, A.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation of AlGaN-based UV-C SQW LEDs analyzed by means of capacitance deep-level transient spectroscopy and numerical simulations
2023 Piva, F.; Pilati, M.; Buffolo, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation Physics of UV LEDs: from experimental data to models
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Discriminating the effects of deep-levels in InGaN/GaN LEDs: impact on forward leakage current
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Haller, C.; Carlin, Jean-François; Grandjean, N.; Vallone, M.; Tibaldic, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
DLTS-based defect analysis in UV-C single QW LEDs during a constant current stress
2022 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Effects of quantum-well indium content on deep defects and reliability of InGaN/GaN light-emitting diodes with under layer
2021 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Fast Characterization of Power LEDs: Circuit Design and Experimental Results
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Narduzzi, Claudio; Fraccaroli, Riccardo; Caria, Alessandro; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
III-N optical devices: physical processes limiting efficiency and reliability
2022 Meneghini, M.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Casu, C.; Roccato, N.; Carlin, J. F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
III-N optoelectronic devices: understanding the physics of electro-optical degradation
2023 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Haller, Camille; Carlin, Jean-Francois; Grandjean, Nicolas; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Verzellesi, Giovanni; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
III-N optoelectronics: defects, reliability and challenges
2022 Meneghini, M.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Casu, C.; Roccato, N.; Carlin, J. F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Investigation and modeling of the role of interface defects in the optical degradation of InGaN/GaN LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Trivellin, Nicola; Haller, Camille; Carlin, Jean-François; Grandjean, Nicolas; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Investigation of degradation dynamics of 265 nm LEDs assisted by EL measurements and numerical simulations
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Longato, Simone; Susilo, Norman; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Lifetime limiting degradation mechanisms of state-of-the-art UVC LEDs
2023 Zanoni, Enrico; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; DE SANTI, Carlo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Modeling of TAT-related forward leakage current in InGaN/GaN SQW LEDs based on experimentally-determined defects parameters
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, Francesco; DE SANTI, Carlo; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.