Optical Power Degradation Related to Turn-On in Commercial 265 nm UV-C LEDs

Francesco Piva;Matteo Buffolo;Marco Pilati;Nicola Roccato;Carlo De Santi;Nicola Trivellin;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni;Matteo Meneghini
2024
2024
Proceedings of the 31st IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
31st IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2024)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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