V-pits and trench defects in GaN-based optoelectronic devices: Extensive characterization and modeling

Carlo De Santi;Marco Nicoletto;Alessandro Caria;Nicola Roccato;Matteo Buffolo;Fabiana Rampazzo;Andrea Gasparotto;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni;Matteo Meneghini
2025
2025
Proceedings of the 15th International Conference on Nitride Semiconductors
15th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-15)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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