PIVA, FRANCESCO
PIVA, FRANCESCO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Efficiency- and lifetime-limiting effects of commercially available UVC LEDs: a review
2025 Onushkin, Grigory; Ruschel, Jan; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Rass, Jens; Davis, Lynn; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Van Driel, Willem; Meneghini, Matteo
Long-Term Analysis of Temperature and Current-Dependent Degradation in Green High-Power Light-Emitting Diodes
2025 Herzog, Alexander; Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Benkner, Simon; Zandi, Babak; Balasus, Jens; Myland, Paul; Wirth, Felix; Van Driel, Willem D.; Meneghini, Matteo; Khanh, Tran Quoc
Modeling the capacitance–voltage characteristics of AlGaN-based UV-C LEDs
2025 Roccato, N.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Schilling, M.; Muhin, A.; Höpfner, J.; Guttmann, M.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Advanced defect spectroscopy in wide-bandgap semiconductors: review and recent results
2024 Fregolent, Manuel; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Cester, Andrea; Higashiwaki, Masataka; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Fast Characterization of Power LEDs: Circuit Design and Experimental Results
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Narduzzi, Claudio; Fraccaroli, Riccardo; Caria, Alessandro; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Investigation and modeling of the role of interface defects in the optical degradation of InGaN/GaN LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Trivellin, Nicola; Haller, Camille; Carlin, Jean-François; Grandjean, Nicolas; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Investigation of degradation dynamics of 265 nm LEDs assisted by EL measurements and numerical simulations
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Longato, Simone; Susilo, Norman; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling of the electrical characteristics and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN-based light emitting diode
2023 Casu, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation of AlGaN-based UV-C SQW LEDs analyzed by means of capacitance deep-level transient spectroscopy and numerical simulations
2023 Piva, F.; Pilati, M.; Buffolo, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Impact of Mg-doping on the performance and degradation of AlGaN-based UV-C LEDs
2023 Piva, F.; Grigoletto, M.; Brescancin, R.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Ruschel, J.; Glaab, J.; Hauer Vidal, D.; Guttmann, M.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Susilo, N.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical degradation of AlGaN-based UV-C LEDs by combined deep-level optical spectroscopy and TCAD simulations
2023 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Fregolent, M.; Pilati, M.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Performance and Degradation of Commercial Ultraviolet-C Light-Emitting Diodes for Disinfection Purposes
2023 Trivellin, N; Piva, F; Fiorimonte, D; Buffolo, M; De Santi, C; Zanoni, E; Meneghesso, G; Meneghini, M
Status of Performance and Reliability of 265 nm Commercial UV-C LEDs in 2023
2023 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola
Defects and Reliability of GaN-Based LEDs: Review and Perspectives
2022 Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Roccato, N.; Casu, C.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical characteristic of InGaN/GaN blue-violet LED structure under electrical stress
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Reliability of Commercial UVC LEDs: 2022 State-of-the-Art
2022 Trivellin, N.; Fiorimonte, D.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defect incorporation in In-containing layers and quantum wells: Experimental analysis via deep level profiling and optical spectroscopy
2021 Piva, F.; De Santi, C.; Caria, A.; Haller, C.; Carlin, J. F.; Mosca, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Grandjean, N.; Meneghini, M.
Effects of quantum-well indium content on deep defects and reliability of InGaN/GaN light-emitting diodes with under layer
2021 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical characteristics of InGaN/GaN LED structures based on experimentally-measured defect characteristics
2021 Roccato, N.; Piva, F.; Santi, C. D.; Brescancin, R.; Mukherjee, K.; Buffolo, M.; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Vallone, M.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.