Scaling of GaN HEMTs for microwave and millimeter-wave applications: achieving control of short-channel effects, deep levels and reliability

Enrico Zanoni;Matteo Buffolo;Andrea Carlotto;Francesco De Pieri;Carlo De Santi;Gaudenzio Meneghesso;Matteo Meneghini;Fabiana Rampazzo
2024

2024
Proceedings of TWHM 2024
15th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics - TWHM 2024
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