FORNASIER, MIRKO
FORNASIER, MIRKO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Self-Induced Photoionization of Traps in Buffer-Free AlGaN/GaN HEMTs
2025 De Pieri, F.; Fornasier, M.; Gao, Z.; Fregolent, M.; De Santi, C.; Rampazzo, F.; Putcha, V.; Riet, E. V. D.; Hartskeerl, D.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.; Zanoni, E.
Dynamic Behavior of Threshold Voltage and ID–VDS Kink in AlGaN/GaN HEMTs Due to Poole–Frenkel Effect
2023 Gao, Zhan; De Santi, Carlo; Rampazzo, Fabiana; Saro, Marco; Fornasier, Mirko; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; Zanoni, Enrico
Microwave and Millimeter-Wave GaN HEMTs: Impact of Epitaxial Structure on Short-Channel Effects, Electron Trapping, and Reliability
2023 Zanoni, Enrico; Santi, Carlo De; Gao, Zhan; Buffolo, Matteo; Fornasier, Mirko; Saro, Marco; Pieri, Francesco De; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zagni, Nicolò; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni
Transconductance Overshoot, a New Trap-Related Effect in AlGaN/GaN HEMTs
2023 Gao, Z.; Rampazzo, F; De Santi, C; Fornasier, M; Meneghesso, G; Meneghini, M; Blanck, H; Grunenputt, J; Sommer, D; Chen, Dy; Wen, Kh; Chen, Jt; Zanoni, E
Understanding the Optical Degradation of 845 nm Micro-Transfer-Printed VCSILs for Photonic Integrated Circuits
2023 Zenari, M; Buffolo, M; Fornasier, M; De Santi, C; Goyvaerts, J; Grabowski, A; Gustavsson, J; Kumari, S; Stassren, A; Baets, R; Larsson, A; Roelkens, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M