LEVADA, SIMONE
LEVADA, SIMONE
Accelerated aging of GaN light emitting diodes studied by 1/f and RTS noise
2005 S., Bychikhin; L. K. J., Vandamme; J., Kuzmik; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; D., Pogany
Analysis of DC Current Accelerated Life Tests of GaN LEDs Using a Weibull-Based Statistical Model
2005 Levada, Simone; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Characterization of power LEDs for general lighting application
2004 Levada, Simone; Meneghesso, Gaudenzio; Spiazzi, Giorgio; Buso, Simone; Fiorentin, Pietro; Carraro, D; Zanoni, Enrico
Defect diagnostics of degradation mechanisms of GaN-based LEDs after accelerated DC current ageing
2003 A., Cavallini; A., Castaldini; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; G., Scamarcio; S., Du; I., Eliashevich
Degradation effects in InGaN/GaN light emitting diodes
2004 Levada, Simone; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Pavesi, M; Manfredi, M; Cavallini, A; Castaldini, A; Salviati, G; Armani, N; Rossi, F; Du, S; Eliashevich, I.
Degradation mechanisms of GaN-based LEDs after accelerated DC current aging
2002 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; A., Cavallini; A., Castaldini; G., Scamarcio; S., Du; I., Eliashevich
Factors limiting the High Brightness InGaN LEDs performance at high injection current bias
2005 Levada, Simone; Carraro, D.; Favaro, E.; Meneghini, Matteo; Tazzoli, Augusto; Buso, Simone; Spiazzi, Giorgio; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Failure mechanisms of gallium nitride LEDs related with passivation
2005 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Levada, Simone; Meneghesso, Gaudenzio; Tamiazzo, Gianluca; Zanoni, Enrico; T., Zahner; U., Zehnder; V., Haerle; U., Strauss
Failure Mechanisms of GaN-based LEDs related with instabilities in Doping Profile and Deep Levels
2004 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; G., Salviati; N., Armani; F. ROSSI M., Pavesi; M., Manfredi; A., Cavallini; A., Castaldini; S., Du; I., Eliashevich
Failure modes and mechanisms of DC-aged GaN LEDs
2002 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; Zanoni, Enrico; G., Mura; M., Vanzi; A., Cavallini; A., Castaldini; S., Du; AND I., Eliashevich
Luminescence properties of GaN LEDs after DC-aging
2003 N., Armani; F., Rossi; G., Salviati; M., Pavesi; M., Manfredi; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; S., Du; I., Eliashevich; A., Castaldini; A., Cavallini
Optical evidence of an electrothermal degradation of InGaN-based light-emitting diodes during electrical stress
2004 M., Pavesi; M., Manfredi; G., Salviati; N., Armani; F., Rossi; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; S., Du; I., Eliashevich
Reliability analysis of Gan-Based LEDs for solid state illumination
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; A., Cavallini; M., Manfredi; S., Du; AND I., Eliashevich
Reliability analysis of GaN-Based LEDs for solid state illumination
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; A., Cavallini; M., Manfredi; S., Du; I., Eliashevich
Reliability of GaN-based LEDs
2004 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico
Reliability of visible GaN LEDs in plastic package
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; E., Zanoni; G., Scamarcio; G., Mura; Zanoni, Enrico; M., Vanzi; S., Du; I., Eliashevich
Role of deep levels in DC current aging of GaN/InGaN Light-Emitting Diodes studied by Capacitance and Photocurrent Spectroscopy
2005 Cavallini, A.; Castaldini, A.; Rigutti, L.; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; Zehnder, U.; Zahner, T.; Haerle, V.
Short-term instabilities of InGaN/GaN light-emitting diodes by capacitance-voltage characteristics and junction spectroscopy
2005 A., Castaldini; A., Cavallini; L., Rigutti; Meneghini, Matteo; Levada, Simone; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; V., Haerle; T., Zahner; U., Zehnder
Study of short-term instabilities in InGaN/GaN light-emitting diodes by means of capacitance voltage measurements and deep-level transient spectroscopy
2004 Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; Cavallini, A; Castaldini, A; Harle, V; Zahner, T; Zehnder, U.
The role of Mg complexes in the degradation of InGaN-based LEDs
2004 F., Rossi; N., Armani; G., Salviati; M., Pavesi; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico