LEVADA, SIMONE
LEVADA, SIMONE
Analysis of DC Current Accelerated Life Tests of GaN LEDs Using a Weibull-Based Statistical Model
2005 Levada, Simone; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Failure modes and mechanisms of DC-aged GaN LEDs
2002 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; Zanoni, Enrico; G., Mura; M., Vanzi; A., Cavallini; A., Castaldini; S., Du; AND I., Eliashevich
Optical evidence of an electrothermal degradation of InGaN-based light-emitting diodes during electrical stress
2004 M., Pavesi; M., Manfredi; G., Salviati; N., Armani; F., Rossi; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; S., Du; I., Eliashevich
Reliability analysis of GaN-Based LEDs for solid state illumination
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; A., Cavallini; M., Manfredi; S., Du; I., Eliashevich
Reliability of visible GaN LEDs in plastic package
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; E., Zanoni; G., Scamarcio; G., Mura; Zanoni, Enrico; M., Vanzi; S., Du; I., Eliashevich
Short-term instabilities of InGaN/GaN light-emitting diodes by capacitance-voltage characteristics and junction spectroscopy
2005 A., Castaldini; A., Cavallini; L., Rigutti; Meneghini, Matteo; Levada, Simone; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; V., Haerle; T., Zahner; U., Zehnder
The role of Mg complexes in the degradation of InGaN-based LEDs
2004 F., Rossi; N., Armani; G., Salviati; M., Pavesi; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico