TREVISANELLO, LORENZO ROBERTO
TREVISANELLO, LORENZO ROBERTO
Analysis of the Diffusion Involved in the Degradation of InGaN-Based Laser Diodes
2009 K., Orita; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; S., Takigawa; M., Yuri; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; T., Tanaka
Analysis of the role of current in the degradation of InGaN-based laser diodes
2009 Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Zanoni, Enrico; K., Orita; M., Yuri; D., Ueda
Extensive analysis of the degradation of phosphor-converted LEDs
2009 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; F., DE ZUANI; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Thermally activated degradation and package instabilities of low power PC-LEDs
2009 Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio
A model for the thermal degradation of metal/(p-GaN) interface in GaN-based light emitting diodes
2008 Meneghini, Matteo; Rigutti, L; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Cavallini, A; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A review on the reliability of GaN-based LEDs
2008 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Accelerated life test of high brightness light emitting diodes
2008 Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Meneghini, Matteo; Mura, G; Vanzi, M; Pavesi, M; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Analysis of the Degradation of Blu-Ray Laser Diodes
2008 Trivellin, Nicola; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; K., Orita; M., Yuri; D., Ueda; K., Yamanaka; Zanoni, Enrico
Analysis of the role of current in the degradation of InGaN-based laser diodes
2008 Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Zanoni, Enrico; K., Orita; M., Yuri; D., Ueda
Analysis of the Temperature impact on Reliability of GaN-based Light Emitting Diodes
2008 Trevisanello, Lorenzo Roberto
Combined Optical And Electrical Analysis of AlGaN-Based Deep-UV LEDs Reliability
2008 Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; A., Lunev; J., Yang; Y., Bilenko; W., Sun; M., Shatalov; R., Gaska; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio
Electro-thermally Activated Degradation of Blu-Ray GaN-based Laser Diodes
2008 Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Trivellin, Nicola; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; K., Orita; M., Yuri; Zanoni, Enrico
High temperature instabilities of ohmic contacts on p-GaN
2008 Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Meneghini, Matteo; U., Zehnder; B., Hahn; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Study of the factors that limit the reliability of GaN-based LEDs at high temperature levels
2008 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; G., Mura; M., Vanzi; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Thermal degradation of InGaN/GaN LEDs ohmic contacts
2008 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; U., Zehnder; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Thermal-activated degradation mechanism on Phosphor-Converted Light Emitting Diode
2008 Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Trivellin, Nicola; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio
High temperature degradation of ohmic contacts on p-GaN
2007 Trivellin, Nicola; Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; U., Zehnder; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
High temperature electro-optical degradation of InGaN/GaN HBLEDs
2007 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Sanna, C; Mura, G; Vanzi, M; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
High temperature instabilities of GaN LEDs related to passivation
2007 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
High temperature instabilities of ohmic contacts on Mg-doped gallium nitride
2007 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; U., Zehnder; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico