Study of Heavy-Ion-Induced Degradation in Si3N4MIM Capacitors for GaN Power Amplifiers
Roy Chowdhury S.;Rossetto I.;De Santi C.;Fregolent M.;Carlotto A.;Rampazzo F.;De Pieri F.;Meneghesso G.;Meneghini M.;Zanoni E.
2026
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
