Vertical GaN Devices: Reliability Challenges and Lessons Learned from Si and SiC

Meneghini M.;Fregolent M.;Marcuzzi A.;Favero D.;De Santi C.;Buffolo M.;Brusaterra E.;Meneghesso G.;Pavan P.;Zanoni E.
2024
2024
Proceedings of the 70th IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2024)
70th IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2024)
2-s2.0-86000010116
04.01 - Contributo in atti di convegno
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