Role of deep levels and time-dependent breakdown effects in determining performances and reliability of power GaN devices

Enrico Zanoni;Alessandro Barbato;Davide Bisi;Carlo De Santi;Isabella Rossetto;Maria Ruzzarin;Nicola Trivellin;Alessandro Chini;Gaudenzio Meneghesso;Matteo Meneghini
2017
2017
Proceedings of the 9th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (ISPlasma2017)
9th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (ISPlasma2017)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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