Hot-Electron Degradation under Switching Accelerated Lifetime Testing (SALT) of 650 v E-Mode GaN HEMTs: A Novel Experimental Approach
Dell'andrea M.;Boito M.;Fregolent M.;Fraccaroli R.;Rossetto I.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2026
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