BISI, DAVIDE
BISI, DAVIDE
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
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Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Performance-Limiting Traps in GaN-Based HEMTs: From Native Defects to Common Impurities | 2016 | I. RossettoD. BisiC. De SantiA. StoccoG. MeneghessoE. ZanoniM. Meneghini | - | - | Power GaN Devices: Materials, Applications and Reliability |