Performance-Limiting Traps in GaN-Based HEMTs: From Native Defects to Common Impurities

I. Rossetto;D. Bisi;C. De Santi;A. Stocco;G. Meneghesso;E. Zanoni;M. Meneghini
2016

2016
Power GaN Devices: Materials, Applications and Reliability
978-3-319-43197-0
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