Identification of boron-related traps via capacitance spectroscopy in diamond Schottky diodes

Biasin G.;Fregolent M.;Buffolo M.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Chini A.;Meneghini M.
2026
2026
DIAMOND AND RELATED MATERIALS
WOS:001828689100001
2-s2.0-105044861682
W7169788401
01.01 - Articolo in rivista
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