III-N optical devices: physical processes limiting efficiency and reliability

M. Meneghini;C. De Santi;M. Buffolo;A. Caria;F. Piva;C. Casu;N. Roccato;N. Trivellin;G. Meneghesso;E. Zanoni
2022
2022
Proceedings of the 8th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials (JSPS 2022)
8th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials (JSPS 2022)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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