III-N optoelectronics: defects, reliability and challenges

M. Meneghini;C. De Santi;M. Buffolo;A. Caria;F. Piva;C. Casu;N. Roccato;N. Trivellin;G. Meneghesso;E. Zanoni
2022
2022
Proceedings of ICOOPMA-EuroDIM 2022
ICOOPMA-EuroDIM 2022
04.01 - Contributo in atti di convegno
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