Gate leakage modeling and reliability in forward gate bias of p-GaN HEMTs with Schottky-gate

Carlo De Santi;Manuel Fregolent;Mirco Boito;Matteo Buffolo;Eleonora Canato;Isabella Rossetto;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni;Matteo Meneghini
2024
2024
Proceedings of the GaN Marathon 2024
GaN Marathon 2024
04.01 - Contributo in atti di convegno
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