Negative Activation Energy of Gate Reliability in Schottky-Gate p-GaN HEMTs: Combined Gate Leakage Current Modeling and Spectral Electroluminescence Investigation
Fregolent, Manuel;Boito, Mirco;De Santi, Carlo;Buffolo, Matteo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo
2024
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