Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements

F. Piva;N. Roccato;M. Buffolo;C. De Santi;M. Pilati;G. Meneghesso;E. Zanoni;M. Meneghini
2022
2022
Proceedings of the 2022 International Workshop on Nitride Semiconductors
2022 International Workshop on Nitride Semiconductors
04.01 - Contributo in atti di convegno
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