Degradation of AlGaN/GaN HET devices: role of reverse vias and hot electron stress
MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;STOCCO, ANTONIO;BISI, DAVIDE;DE SANTI, CARLO;ROSSETTO, ISABELLA;ZANANDREA, ALBERTO;CESTER, ANDREA;RAMPAZZO, FABIANA;ZANONI, ENRICO
2013
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