MINETTO, ANDREA
MINETTO, ANDREA
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A Generalized Approach to Determine the Switching Reliability of GaN HEMTs on-Wafer Level
2021 Modolo, N.; Minetto, A.; De Santi, C.; Sayadi, L.; Sicre, S.; Prechtl, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Drain Field Plate Impact on the Hard-Switching Performance of AlGaN/GaN HEMTs
2021 Minetto, A.; Modolo, N.; Sayadi, L.; Koller, C.; Ostermaier, C.; Meneghini, M.; Zanoni, E.; Prechtl, G.; Sicre, S.; Deutschmann, B.; Haberlen, O.
Hot electron effects in AlGaN/GaN HEMTs during hard-switching events
2021 Minetto, A.; Modolo, N.; Meneghini, M.; Zanoni, E.; Sayadi, L.; Sicre, S.; Deutschmann, B.; Haberlen, O.
Understanding the effects of off-state and hard-switching stress in gallium nitride-based power transistors
2020 Modolo, N.; De Santi, C.; Minetto, A.; Sayadi, L.; Sicre, S.; Prechtl, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.