Robustness and reliability of high-power white LEDs under high-temperature, high-current stress

Caria, Alessandro;Fraccaroli, Riccardo;De Santi, Carlo;Buffolo, Matteo;Trivellin, Nicola;Zanoni, Enrico;Meneghesso, Gaudenzio;Meneghini, Matteo
2024

2024
Proceedings of the SPIE Photonics West 2024
SPIE Photonics West 2024
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