Experimental and Numerical Analysis of OFFState Bias Induced Instabilities in Vertical GaNon-Si Trench MOSFETs

Fregolent, Manuel;Favero, Davide;De Santi, Carlo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo;
2024
2024
IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
WOS:001314358400032
2-s2.0-85201325259
W4401536947
01.01 - Articolo in rivista
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