Analysis of defect-related optical degradation of VCSILs for photonic integrated circuits

Zenari M.;Buffolo M.;Fornasier M.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2023
2023
Proceedings of SPIE Photonics West 2023 conference
SPIE Photonics West 2023
2-s2.0-85159779747
9781510659834
9781510659841
04.01 - Contributo in atti di convegno
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