Reliability of commercial UV-C LEDs for disinfection purposes

N. Trivellin;F. Piva;D. Fiorimonte;M. Buffolo;C. De Santi;E. Zanoni;G. Meneghesso;M. Meneghini
2022

2022
Proceedings of the 2022 International Workshop on Nitride Semiconductors
2022 International Workshop on Nitride Semiconductors
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