Charge Trapping and Stability of E-Mode p-gate GaN HEMTs Under Soft- and Hard- Switching Conditions

Masin, F.;Meneghini, M.;Canato, E.;Barbato, A.;De Santi, C.;Zanoni, E.;Meneghesso, G.
2020
2020
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2020
WOS:000612717200097
2-s2.0-85088377775
978-1-7281-3199-3
04.01 - Contributo in atti di convegno
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