Field-dependent degradation mechanisms in GaN-based HEMTs

MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ROSSETTO, ISABELLA;RAMPAZZO, FABIANA;DE SANTI, CARLO;BISI, DAVIDE;ZANONI, ENRICO
2016
2016
Proc. of the 23rd IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
23rd IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
WOS:000389243200018
2-s2.0-84989834902
978-1-4673-8258-8
04.01 - Contributo in atti di convegno
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