Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components

ZANONI, ENRICO;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;DE SANTI, CARLO;LA GRASSA, MARCO;BUFFOLO, MATTEO;TRIVELLIN, NICOLA;MONTI, DESIREE
2016
2016
Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting
WOS:000378432300021
2-s2.0-84978704686
978-1-5106-0003-4
04.01 - Contributo in atti di convegno
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