Time-Dependent Failure of GaN-on-Si Power HEMTs With p-GaN Gate

ROSSETTO, ISABELLA;MENEGHINI, MATTEO;DE SANTI, CARLO;DALCANALE, STEFANO;ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO
2016
2016
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
WOS:000378592800016
2-s2.0-84992305665
01.01 - Articolo in rivista
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