DING, LILI
DING, LILI
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
RD53 pixel chips for the ATLAS and CMS Phase-2 upgrades at HL-LHC
2024 Loddo, F.; Andreazza, A.; Arteche, F.; Barbero, M. B.; Barillon, P.; Beccherle, R.; Bilei, G. M.; Bjalas, W.; Bonaldo, S.; Bortoletto, D.; Calderini, G.; Caratelli, A.; Christian, D. C.; Christiansen, J.; Conti, E.; Crescioli, F.; Daas, M.; De Robertis, G.; Demaria, N.; Deptuch, G. C.; Dieter, Y.; Dimitrievska, A.; Ding, L.; Esposito, S.; Exarchou, D.; Fahim, F.; Fioriti, A.; Fougeron, D.; Gaioni, L.; Garcia-Sciveres, M.; Gerardin, S.; Gnani, D.; Grippo, M.; Gromov, V.; Hamer, M.; Havranek, M.; Heim, T.; Hemperek, T.; Hinterkeuser, F.; Hoff, J.; Huiberts, S.; Janssen, J.; Jara Casas, L. M.; Jirsa, J.; John, J. J.; Kampkotter, J.; Karagounis, M.; Khwaira, Y.; Kluit, R.; Krieger, A.; Krueger, H.; Lalic, J.; Lauritzen, M.; Licciulli, F.; Lipton, R.; Liu, T.; Lopez Morillo, E.; Lounis, A.; Luongo, F.; Magazzu, G.; Marcisovsky, M.; Marconi, S.; Marquez Lasso, F.; Marzocca, C.; Mattiazzo, S.; Menouni, M.; Minuti, M.; Mironova, M.; Miryala, S.; Monteil, E.; Moustakas, K.; Muõz Chavero, F.; Neue, G.; Orfanelli, S.; Paccagnella, A.; Pacher, L.; Palla, F.; Palomo Pinto, F. R.; Papadopoulou, A.; Paterno, A.; Petri, A.; Placidi, P.; Pohl, D.; Pradas, A.; Prydderch, M. L.; Pulli, A.; Ratti, L.; Re, V.; Rehman, A.; Rymaszewski, P.; Solal, M. C.; Standke, M.; Stiller, A.; Strebler, T.; Stugu, B.; Thomas, S.; Traversi, G.; Vogrig, D.; Vogt, M.; Wang, T.; Yang, H.; Zdenko, J.; Zimmerman, T.
Comparison of radiation degradation induced by x-ray and 3-MeV protons in 65-nm CMOS transistors
2016 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro
Impact of bias conditions on electrical stress and ionizing radiation effects in Si-based TFETs
2016 Ding, Lili; Gnani, Elena; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Driussi, Francesco; Selmi, Luca; Le Royer, Cyrille; Paccagnella, Alessandro
Radiation tolerance study of a commercial 65nm CMOS technology for high energy physics applications
2016 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro
Recent progress of RD53 Collaboration towards next generation Pixel Read-Out Chip for HL-LHC
2016 Demaria, N; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Gensolen, F.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Wang, A.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Dortz, O. Le; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Gonella, L.; Hemperek, T.; Huegging, F.; Karagounis, M.; Kishishita, T.; Krueger, H.; Rymaszewski, P.; Wermes, N.; Ciciriello, F.; Corsi, F.; Marzocca, C.; Robertis, G. De; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Shojaii, S.; Stabile, A.; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Ding, Lili; Gerardin, Simone; Giubilato, Piero; Neviani, Andrea; Paccagnella, Alessandro; Vogrig, Daniele; Wyss, Jeffery; Bacchetta, N.; Canio, F. De; Gaioni, L.; Nodari, B.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Comotti, D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Beccherle, R.; Bellazzini, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Fanucci, L.; Rizzi, A.; Saponara, S.; Androsov, K.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Conti, E.; Marconi, S.; Passeri, D.; Placidi, P.; Casa, G. Della; Mazza, G.; Rivetti, A.; Rolo, M. D. Da Rocha; Monteil, E.; Pacher, L.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Hessey, N.; Kluit, R.; Zivkovic, V.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Sicho, P.; Vrba, V.; Vila, I.; Lopez Morillo, E.; Aguirre, M. A.; Palomo, F. R.; Muñoz, F.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Dannheim, D.; Dobos, D.; Linssen, L.; Pernegger, H.; Valerio, P.; Tehrani, N. Alipour; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Garcia Sciveres, M.; Gnani, D.; Mekkaoui, A.; Gorelov, I.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Toms, K.; Witt, J. N. De; Grillo, A.; Paternò, A.
CHIPIX65: Developments on a new generation pixel readout ASIC in CMOS 65 nm for HEP experiments
2015 Demaria, N.; Dellacasa, G.; Mazza, G.; Rivetti, A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Monteil, E.; Pacher, L.; Ciciriello, F.; Corsi, F.; Marzocca, C.; De Roberts, G.; Loddo, F.; Tamma, C.; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Gerardin, Simone; Mattiazzo, Serena; Ding, Lili; Giubilato, Piero; Paccagnella, Alessandro; De Canio, F.; Gaioni, L.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Riceputi, E.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Liberali, V.; Shojaii, S.; Stabile, A.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Conti, E.; Marconi, S.; Passen, D.; Placidi, P.
Drain Current Collapse in 65 nm pMOS Transistors After Exposure to Grad Dose
2015 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Mattiazzo, Serena; Bisello, Dario; Paccagnella, Alessandro
Enhancement of Transistor-to-Transistor Variability Due to Total Dose Effects in 65-nm MOSFETs
2015 Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Cornale, D.; Ding, Lili; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro; Faccio, F.; Michelis, S.
Investigation of hot carrier stress and constant voltage stress in high-k Si-based TFETs
2015 Ding, Lili; Elena, Gnani; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Francesco, Driussi; Pierpaolo, Palestri; Luca, Selmi; Cyrille, Royer; Paccagnella, Alessandro
Investigation of total ionizing dose effect and displacement damage in 65nm CMOS transistors exposed to 3MeV protons
2015 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro
Radiation vulnerability in 65 nm CMOS I/O transistors after exposure to grad dose
2015 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Mattiazzo, Serena; Bisello, Dario; Paccagnella, Alessandro
65 nm technology for HEP: Status and perspective
2014 Valerio, Pierpaolo; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Gensolen, F.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Wang, A.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Genat, J. F.; Le Dortz, O.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Gonella, L.; Hemperek, T.; Huegging, F.; Karagounis, M.; Kishishita, T.; Krueger, H.; Rymaszewski, P.; Wermes, N.; Ciciriello, F.; Corsi, F.; Licciulli, F.; Marzocca, C.; De Robertis, G.; Loddo, F.; Tamma, C.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Shojaii, S.; Stabile, A.; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Ding, Lili; Gerardin, Simone; Giubilato, Piero; Neviani, Andrea; Paccagnella, Alessandro; Vogrig, Daniele; Wyss, J.; Bacchetta, N.; De Canio, F.; Gaioni, L.; Nodari, B.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Comotti, D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Beccherle, R.; Bellazzini, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Fanucci, L.; Rizzi, A.; Saponara, S.; Androsov, K.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Conti, E.; Marconi, S.; Passeri, D.; Placidi, P.; Della Casa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Rivetti, A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Monteil, E.; Pacher, L.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Hessey, N.; Kluit, R.; Zivkovic, V.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Sicho, P.; Vrba, V.; Vila, I.; Aguirre, M. A.; Muã±oz, F.; Palomo, F. R.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Dannheim, D.; Dobos, D.; Linssen, L.; Pernegger, H.; Alipour Tehrani, N.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Garcia Sciveres, M.; Gnani, D.; Mekkaoui, A.; Gorelov, I.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Toms, K.; De Witt, J. N.; Grillo, A.