Radiation vulnerability in 65 nm CMOS I/O transistors after exposure to grad dose

DING, LILI;GERARDIN, SIMONE;BAGATIN, MARTA;MATTIAZZO, SERENA;BISELLO, DARIO;PACCAGNELLA, ALESSANDRO
2015
2015
Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS
15th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2015
WOS:000380404200081
2-s2.0-84973334335
9781509002313
04.01 - Contributo in atti di convegno
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