Radiation vulnerability in 65 nm CMOS I/O transistors after exposure to grad dose

DING, LILI;GERARDIN, SIMONE;BAGATIN, MARTA;MATTIAZZO, SERENA;BISELLO, DARIO;PACCAGNELLA, ALESSANDRO
2015

2015
Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS
9781509002313
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