BAGATIN, MARTA
BAGATIN, MARTA
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Radiation and particle effects on avionics induced by Terrestrial Gamma-Ray Flashes
In corso di stampa Tavani, M.; Argan, A.; Paccagnella, Alessandro; Pesoli, A.; Palma, F.; Gerardin, S.; Bagatin, M.; Trois, A.; Picozza, P.; Benvenuti, Piero; Flamini, E.
Displacement Damage and Total Ionizing Dose induced by 3-MeV Protons in SiC Vertical Power MOSFETs
2024 Martinella, C.; Bonaldo, S.; Bagatin, M.; Gerardin, S.; Fur, N.; Gassenmeier, V.; Goncalves De Medeiros, H.; Paccagnella, A.; Grossner, U.
Impact of Tier Pitch Scaling on Heavy-Ion Sensitivity of 3-D NAND Flash Memories
2024 Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Benvenuti, A.; Beltrami, S.
Radiation-Induced Charge Trapping in Shallow Trench Isolations of FinFETs
2024 Bonaldo, S.; Wallace, T.; Barnaby, H.; Borghello, G.; Termo, G.; Faccio, F.; Fleetwood, D. M.; Mattiazzo, S.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Gerardin, S.
Radiation-Induced Effects in SiC Vertical Power MOSFETs Irradiated at Ultrahigh Doses
2024 Bonaldo, S.; Martinella, C.; Race, S.; Fur, N.; Mattiazzo, S.; Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Grossner, U.
TID effects in the lateral STI oxide of planar CMOS transistors
2024 Bonaldo, S.; Borghello, G.; Faccio, F.; Bagatin, M.; Mattiazzo, S.; Gerardin, S.
Total Ionizing Dose Effects in 3-D NAND Replacement Gate Flash Memory Cells
2024 Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Beltrami, S.
Depth Dependence of Neutron-induced Errors in 3D NAND Floating Gate Cells
2023 Gerardin, S.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Beltrami, S.; Benvenuti, A.; Cazzaniga, C.
Influence of Bulk Doping and Halos on the TID Response of I/O and Core 150 nm nMOSFETs
2023 Bonaldo, S.; Mattiazzo, S.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Margutti, G.; Gerardin, S.
Nuclear physics midterm plan at Legnaro National Laboratories (LNL)
2023 Ballan, M.; Bottoni, S.; Caamaño, M.; Caciolli, A.; Campostrini, M.; Cicerchia, M.; Crespi, F. C. L.; Cristallo, S.; Dell’Aquila, D.; Depalo, R.; Fioretto, E.; Galtarossa, F.; Gasques, L. R.; Gottardo, A.; Gramegna, F.; Gulminelli, F.; Kurtukian-Nieto, T.; La Cognata, M.; Lenzi, S. M.; Marchi, T.; Mazurek, K.; Mengoni, D.; Mou, L.; Nania, R.; Pupillo, G.; Valiente-Dobón, J. J.; Zanon, I.; Acosta, L.; Alvarez, M. A. G.; Andrighetto, A.; Arazi, A.; Arzenton, A.; Assié, M.; Bagatin, M.; Barbaro, F.; Barbieri, C.; Barlini, S.; Basiricò, L.; Battistoni, G.; Beaumel, D.; Bentley, M. A.; Benzoni, G.; Bertoldo, S.; Bertulani, C.; Bonasera, A.; Camaiani, A.; Canton, L.; Capirossi, V.; Carante, M. P.; Carraro, C.; Carturan, S. M.; Casini, G.; Cavanna, F.; Centofante, L.; Chávez, E. R.; Chbihi, A.; Ciemała, M.; Cisternino, S.; Colombi, A.; Colucci, M.; Compagnucci, A.; Corradetti, S.; Corradi, L.; D’Agata, G.; de Angelis, G.; De Dominicis, L.; De Salvador, D.; Defilippo, E.; Del Fabbro, M.; Di Nitto, A.; Ditalia Tchernij, S.; Donzella, A.; Duguet, T.; Esposito, J.; Favela, F.; Fernández-García, J. P.; Flavigny, F.; Fontana, A.; Fornal, B.; Forneris, J.; Fraboni, B.; Frankland, J.; Gamba, E.; Geraci, E.; Giuliani, S. A.; Gnoffo, B.; Groppi, F.; Gruyer, D.; Haddad, F.; Isaak, J.; Kmiecik, M.; Koning, A.; Lamia, L.; Le Neindre, N.; Leoni, S.; Lépine-Szily, A.; Lilli, G.; Lombardo, I.; Loriggiola, M.; Loriggiola, L.; Lunardon, M.; Maggioni, G.; Maj, A.; Manenti, S.; Manzolaro, M.; Marcucci, L. E.; Marín-Lámbarri, D. J.; Mariotti, E.; Martin Hernandez, G.; Massimi, C.; Mastinu, P.; Mazzocco, M.; Mazzolari, A.; Mijatović, T.; Mishenina, T.; Mizuyama, K.; Monetti, A.; Montagnoli, G.; Morselli, L.; Moschini, L.; Musacchio Gonzalez, E.; Nannini, A.; Niu, Y. F.; Ota, S.; Paccagnella, A.; Palmerini, S.; Pellegri, L.; Perego, A.; Piantelli, S.; Piatti, D.; Picollo, F.; Pignatari, M.; Pinna, F.; Pirrone, S.; Pizzone, R. G.; Polettini, M.; Politi, G.; Popescu, L.; Prete, G.; Quaranta, A.; Raabe, R.; Ramos, J. P.; Raniero, W.; Rapisarda, G. G.; Recchia, F.; Rigato, V.; Roca Maza, X.; Rocchini, M.; Rodriguez, T.; Roncolato, C.; Rudolph, D.; Russotto, P.; Sánchez-Benítez, Á. M.; Savran, D.; Scarpa, D.; Scheck, M.; Sekizawa, K.; Sergi, M. L.; Sgarbossa, F.; Silvestrin, L.; Singh Khwairakpam, O.; Skowronski, J.; Somà, V.; Spartà, R.; Spieker, M.; Stefanini, A. M.; Steiger, H.; Stevanato, L.; Stock, M. R.; Vardaci, E.; Verney, D.; Vescovi, D.; Vittone, E.; Werner, V.; Wheldon, C.; Wieland, O.; Wimmer, K.; Wyss, J.; Zenoni, A.; Gerardin, S.; Zago, L.
Energy Deposition by Ultrahigh Energy Ions in Large and Small Sensitive Volumes
2022 Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Santin, G.; Costantino, A.; Ferlet-Cavrois, V.; Muschitiello, M.; Beltrami, S.; Voss, K. O.; Trautmann, C.
Radiation Tolerant Multi-Bit Flip-Flop System With Embedded Timing Pre-Error Sensing
2022 Jain, A.; Veggetti, A. M.; Crippa, D.; Benfante, A.; Gerardin, S.; Bagatin, M.
Secondary Particles Generated by Protons in 3D NAND Flash Memories
2022 Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Costantino, A.; Ferlet-Cavrois, V.; Santin, G.; Muschitiello, M.; Pesce, A.; Beltrami, S.
Single Event Effects in 3D NAND Flash Memory Cells with Replacement Gate Technology
2022 Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Costantino, A.; Ferlet-Cavrois, V.; Pesce, A.; Beltrami, S.
TID Effects in Highly Scaled Gate-All-Around Si Nanowire CMOS Transistors Irradiated to Ultra-High Doses
2022 Bonaldo, S.; Gorchichko, M.; Zhang, E. X.; Ma, T.; Mattiazzo, S.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Gerardin, S.; Schrimpf, R. D.; Reed, R. A.; Linten, D.; Mitard, J.; Fleetwood, D. M.
A Heavy-Ion Beam Monitor Based on 3-D NAND Flash Memories
2021 Gerardin, S.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Beltrami, S.; Costantino, A.; Santin, G.; Pesce, A.; Ferlet-Cavrois, V.; Voss, K.
Depth Dependence of Threshold Voltage Shift in 3-D Flash Memories Exposed to X-Rays
2021 Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Beltrami, S.
First tests of a new facility for device-level, board-level and system-level neutron irradiation of microelectronics
2021 Cazzaniga, Carlo; Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Costantino, Alessandra; Frost, Christopher David
A Heavy-Ion Detector Based on 3-D NAND Flash Memories
2020 Bagatin, M.; Frost, C.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Beltrami, S.; Costantino, A.; Poivey, C.; Santin, G.; Ferlet-Cavrois, V.; Cazzaniga, C.
Alpha, Heavy Ion and Neutron Test Results On 90nm ST BCD-CMOS technology
2020 Jain, Abhishek; Veggetti, Andrea; Crippa, D.; Benfante, A.; Gerardin, S.; Bagatin, M.; Cazzaniga, C.